吉时利发布半导体测试软件的升级版KTE 5.3

吉时利发布半导体测试软件的升级版KTE 5.3

 美国俄亥俄州克利夫兰，2011年9月19日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司发布了获得业界好评的吉时利测试环境（KTE）半导体测试软件的升级版。KTE V5.3是专为配合吉时利迄今为止最快、最经济有效的过程控制监控方案产品线S530参数测试系统设计的。

KTE是一款强大的测试开发和运行软件平台，全球有数百家半导体晶圆厂都在使用吉时利前几代的参数测试系统。现在，吉时利的S530测试系统利用这个被业界长期验证的软件平台在最苛刻的生产环境中实现了灵活的测试计划开发和高速测试。现有吉时利S400和S600系列参数测试仪用户将特别受益于S530系统上的KTE V5.3，因为可以将既有测量程序轻松地移植到S530，而且现有测试仪和新的S530系统可以共享同一个测试计划。

将KTE测试开发和运行环境扩展至S530系统结合了吉时利30年的参数测试代码开发实践经验和市场上最快、最先进的系统硬件优势。S530仪器提供过程控制监控等参数测试应用要求的高速度和宽测量范围。

吉时利致力于让新测试系统高度兼容较早的系统支持吉时利参数测试客户。保持软件兼容性的承诺确保了移植路径更为平滑并能在测试平台上加入更新、更高速测试仪以保护晶圆厂的测试软件投资。对于吉时利参数测试的新客户，恪守系统软件连续性的承诺意味着客户会对基于业界长期验证软件的测试系统充满信心。